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粒度儀的測(cè)試方法

更新時(shí)間:2018-04-11      點(diǎn)擊次數(shù):1032

粒度儀分為三類: 納米粒度儀,激光粒度儀和單顆粒光阻法粒度儀

粒度儀是用物理的方法測(cè)試固體顆粒的大小和分布的種儀器。根據(jù)測(cè)試原理的不同分為沉降式粒度儀、沉降天平、激光粒度儀、光學(xué)顆粒計(jì)數(shù)器、電阻式顆粒計(jì)數(shù)器、顆粒圖像分析儀等。

應(yīng)用域

廣泛應(yīng)用于水泥、陶瓷、藥品、乳液、涂料、染料、顏料、填料、化產(chǎn)品、催化劑、鉆井泥漿、磨料、潤(rùn)滑劑、煤粉、泥砂、粉塵、細(xì)胞、細(xì)菌、食品、添加劑、農(nóng)藥、石墨、感光材料、燃料、墨汁、金屬與非金屬粉末、碳酸鈣、嶺土、水煤漿及其他粉狀物料。

顆粒圖像儀擁有靜態(tài)、動(dòng)態(tài)兩種測(cè)試方法。

靜態(tài)方式使用改裝的顯微鏡系統(tǒng),配合清晰攝像機(jī),將顆粒樣品的圖像直觀的反映到電腦屏幕上,配合相關(guān)的計(jì)算機(jī)軟件可行顆粒大小、形狀、整體分布等屬性的計(jì)算,并可以將測(cè)試結(jié)果輸出為報(bào)告。

動(dòng)態(tài)方式具有形貌和粒徑分布雙重分析能力。重建了新循環(huán)分散系統(tǒng)和軟件數(shù)據(jù)處理模塊,解決了靜態(tài)顆粒圖像儀的制樣繁瑣、采樣代表性差、顆粒粘連等缺陷

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